行业标准制修订项目阶段一览表(最近更新日期:2011/10/28) Work programme(ChineseProfessionstandarsunderdevelopment) ofSAC/TC122/SC1 | ||||||
序号 | 项目编号 |
项目名称 Titles | 制修订 |
被代替标准 Revises |
采用国际或 国外先进标准 |
项目阶段 Status |
1 | JB/T 9399-2010 | X射线分析仪器主参数系列 | 修订 | JB/T9399—1999 | 已发布 | |
2 | JB/T 9400-2010 | X射线衍射仪技术条件 | 修订 | JB/T9400—1999 | 已发布 | |
3 | JB/T 7808-2010 | 无损检测仪器工业X射线探伤机主参数系列 | 修订 | JB/T 7808—1995 | 已发布 | |
4 | JB/T 8387-2010 | 无损检测仪器 工业探伤X射线管主参数 | 修订 | JB/T 8387-1996 | 已发布 | |
5 | JB/T 11145-2011 | X射线荧光光谱仪 | 制定 | — | 已发布 | |
6 | JB/T 11144-2011 | X射线衍射仪 | 制定 | — | 已发布 | |
7 | JB/T 2252-2011 | 无损检测仪器单通道涡流检测仪性能测试方法 | 修订 | JB/T 5525-1991 | 已发布 | |
8 | JB/T 5754-2011 | 无损检测仪器单通道声发射检测仪技术条件 | 修订 | JB/T5754-1991 | 已发布 | |
9 | JB/T 8290-2011 | 无损检测仪器 磁粉探伤机 | 修订 | JB/T 8290-1998 | 已发布 | |
10 | JB/T 5482-2011 | 沧州欧谱X射线晶体定向仪 | 修订 | JB/T 5482-2004 | 已发布 | |
11 | JB/T 6220-2011 | 无损检测仪器射线探伤用密度计 | 修订 | JB/T 6220-2004 | 已发布 | |
12 | JB/T 6215-2011 | 无损检测仪器工业用X射线管系列型谱 | 修订 | JB/T 6215-2004 | 已发布 | |
13 | JB/T 9394-2011 | 无损检测仪器X射线应力测定仪技术条件 | 修订 | JB/T 9394-1999 | 已发布 | |
14 | JB/T 11234-2011 | 无损检测仪器工业软X射线探伤机 | 制定 | 已发布 | ||
15 | JB/T 5453-2011 | 无损检测仪器工业X射线图像增强器成像系统 | 修订 | JB/T 5453-2004 | 已发布 | |
16 | JB/T 11259-2011 | 无损检测仪器多频涡流检测仪 | 已发布 | |||
17 | JB/T 11260-2011 | 无损检测仪器声脉冲检测仪 | 制定 | 已发布 | ||
18 | JB/T 11608-2013 | 工业用X射线探伤装置 | 制定 | 已发布 | ||
19 | JB/T 11607-2013 | 无损检测仪器工业用X射线轮胎检测系统 | 制定 | 已发布 | ||
20 | JB/T 11609-2013 | 无损检测仪器声振检测仪 | 制定 | 已发布 | ||
21 | JB/T 11610-2013 | 无损检测仪器数字超声检测仪技术条件 | 制定 | 已发布 | ||
22 | JB/T 11611-2013 | 无损检测仪器涡流-磁记忆综合检测仪 | 制定 | 已发布 | ||
23 | JB/T 11612-2013 | 无损检测仪器涡流-漏磁综合检测仪 | 制定 | 已发布 | ||
24 | JB/T 11602.1-2013 | 无损检测仪器X射线管电压的测量和评定第1部分:电压分压检测 | 制定 | EN 12544-1:1999 | 已发布 | |
25 | JB/T 11602.2-2013 | 无损检测仪器X射线管电压的测量和评定第2部分:用后滤光板法作持久校验 | 制定 | EN 12544-2:1999 | 已发布 | |
26 | JB/T 11602.3-2013 | 无损检测仪器X射线管电压的测量和评定第3部分:能谱检测 | 制定 | EN 12544-3:1999 | 已发布 | |
27 | JB/T 11603.1-2013 | 无损检测仪器声发射设备特性第1部分:设备描述 | 制定 | EN 13477-1:2001 | 已发布 | |
28 | JB/T 11603.2-2013 | 无损检测仪器声发射设备特性第2部分:操作特性验证 | 制定 | EN 13477-2:2001 | 已发布 | |
29 | 2011-2036T-JB | 无损检测仪器 包装、包装标识、贮运技术条件 | 制定 | 报批稿 | ||
30 | JB/T 11604-2013 | 无损检测仪器 超声测厚仪 | 制定 | 已发布 | ||
31 | 2011-2038T-JB | 无损检测仪器 超声检测 超声衍射声时检测仪 | 制定 | 草案稿 | ||
32 | 2011-2039T-JB | 无损检测仪器 多通道数字超声检测仪 | 制定 | 送审稿 | ||
33 | JB/T 11605-2013 | 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪技术条件 | 制定 | 已发布 | ||
34 | JB/T 11606-2013 | 无损检测仪器 金属磁记忆检测仪性能测试方法 | 制定 | 已发布 | ||
35 | JB/T 11601-2013 | 无损检测仪器 目测 设备 | 制定 | EN 13927:2003 | 已发布 | |
36 | 2011-2043T-JB | 无损检测仪器 通用技术条件 | 制定 | 报批稿 | ||
37 | 2011-4044T-JB | 无损检测仪器 相控阵超声检测仪技术条件 | 制定 | 报批稿 | ||
38 | 5011-4045T-JB | 无损检测仪器 阵列涡流检测仪性能检测方法 | 制定 | 报批稿 | ||
39 | JB/T 11279-2012 | 无损检测仪器 阵列涡流探头 | 制定 | 已发布 | ||
40 | JB/T 11278-2012 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机通用技术条件 | 制定 | 已发布 | ||
41 | JB/T 11277-2012 | 无损检测仪器 单通道声阻抗检测仪 | 制定 | 已发布 | ||
42 | JB/T 11276-2012 | 无损检测仪器 超声波探头型号命名方法 | 制定 | 已发布 | ||
43 | JB/T 6221-2011 | 无损检测仪器 工业X射线探伤机 电气通用技术条件 | 修订 | JB/T 6221-2004 | 已发布 | |
44 | JB/T 7411-2011 | 无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件 | 修订 | JB/T 7411-1994 | 已发布 | |
45 | 2012-1822T-JB | 无损检测仪器 超声自动检测系统 | 制定 | 草案稿 | ||
46 | 2012-1823T-JB | 无损检测仪器 磁粉检测用磁化设备技术要求 | 制定 | 草案稿 | ||
47 | 2012-1824T-JB | 无损检测仪器 渗透检测 装置 | 制定 | 草案稿 | ||
48 | 2012-1825T-JB | 无损检测仪器 声扫频检测仪 | 制定 | 送审稿 | ||
49 | 2012-1826T-JB | 无损检测仪器 涡流扫频检测仪 | 制定 | 送审稿 | ||
50 | 2012-1827T-JB | 无损检测仪器 线路板X射线检测仪技术条件 | 制定 | 送审稿 | ||
51 | 2012-1828T-JB | 无损检测仪器 线路板X射线检测仪性能试验方法 | 制定 | 送审稿 | ||
52 | 2012-1829T-JB | 无损检测仪器用试样 通用技术条件 | 制定 | 草案稿 | ||
53 | 2012-1830T-JB | 无损检测仪器用试样 第1部分:超声检测试样 | 制定 | 草案稿 | ||
54 | 2012-1831T-JB | 无损检测仪器用试样 第2部分:射线检测试样 | 制定 | 草案稿 | ||
55 | 2012-1832T-JB | 无损检测仪器用试样 第3部分:电磁(涡流)检测试样 | 制定 | 草案稿 | ||
56 | 2012-1833T-JB | 无损检测仪器用试样 第4部分:磁粉检测用试样 | 制定 | 草案稿 | ||
57 | 2012-1834T-JB | 无损检测仪器用试样 第5部分:渗透检测试样 | 制定 | 草案稿 |
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